中圖儀器白光干涉儀品牌廠家(SuperViewW系列)以以0.1nm核心分辨率為突破,結(jié)合白光干涉技術(shù)與智能化功能,解決材質(zhì)適配窄、精度不穩(wěn)定、粗糙度與輪廓度需分機(jī)測(cè)量、批量檢測(cè)效率低等測(cè)量難題。
更新時(shí)間:2025-12-17
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:23
中圖儀器0.005nm粗糙度RMS重復(fù)性白光干涉儀形貌重復(fù)性達(dá)0.1nm,臺(tái)階測(cè)量準(zhǔn)確度僅0.3%,符合ISO 25178、ISO 10610等300余種國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。基于白光干涉技術(shù)與復(fù)合型EPSI重建算法,連續(xù)10次測(cè)量Sa=0.2nm硅晶片,數(shù)據(jù)偏差<0.001nm,為工藝優(yōu)化、產(chǎn)品質(zhì)檢提供可信的量化依據(jù)。
更新時(shí)間:2025-11-25
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:142
SuperViewW工業(yè)表面3D檢測(cè)白光干涉儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-11-17
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:157
SuperView W1系列納米級(jí)白光干涉三維形貌儀以0.1nm級(jí)分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù),一站式解決超精密測(cè)量精度不足、多材質(zhì)適配難、批量檢測(cè)效率低等測(cè)量難題。應(yīng)用覆蓋半導(dǎo)體、3C電子等多行業(yè)場(chǎng)景,數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)檢測(cè),賦能精密制造升級(jí)。
更新時(shí)間:2025-11-11
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:177
中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析,編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作,單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短,大幅提升檢測(cè) throughput。
更新時(shí)間:2025-11-07
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:184
SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測(cè)儀可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-10-28
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:227
關(guān)注公眾號(hào),了解最新動(dòng)態(tài)

Copyright © 2025 深圳市中圖儀器股份有限公司版權(quán)所有
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
備案號(hào):粵ICP備12000520號(hào)
三坐標(biāo)測(cè)量儀
影像儀
閃測(cè)儀
激光測(cè)量儀
顯微測(cè)量儀
公司簡介
企業(yè)文化
榮譽(yù)資質(zhì)
聯(lián)系我們