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SuperViewW1微米級白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器國內白光干涉儀的重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合下，分辨率可達0.1nm。測件尺寸可以測到12mm，也可以測到更小的尺寸。

SuperViewW1白光干涉儀器專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量，具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優點。

?中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀應用用途多樣、設計簡潔，能夠測量不同的材質、結構、表面粗糙度和波度，涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的形貌測量應用。

中圖儀器SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的復合型EPSI重建算法，解決了傳統相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下，只需要確定起點和終點，即可自動掃描，重建其超光滑的表面區域，不見一絲重疊縫隙。

基于白光干涉原理，中圖儀器自主研發生產的SuperViwe W1國產白光干涉儀采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優點的擴展型相移算法EPSI，單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型，讓3D測量變得簡單。廣泛應用于3C電子、微納米材料、微機電、光學加工、半導體、超精密加工等行業中精密元器件的表面粗糙度、幾何輪廓等參數的測量和分析。