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中圖儀器高分辨率sem掃描電鏡品牌具有空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障的特點，能夠解決檢測場地受限、操作復雜拖慢進度、振動環境下數據不準測量痛點。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實現微觀的形貌和元素分析等。

SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，一站式解決超精密測量精度不足、多材質適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景，數據驅動檢測，賦能精密制造升級。

中圖儀器CEM3000系列材料觀察分析一體化掃描電鏡4nm高清+40秒快檢！以“空間自由+高效精準+定制適配+可靠保障”四大核心優勢，直擊B端檢測核心需求，讓微觀觀測更靈活、更高效、更可靠！

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀一鍵完成單/多區域自動測量、批量分析，編程測量功能可預設流程實現一鍵操作，單個精細器件測量用時短，大幅提升檢測 throughput。

中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測掃描電鏡以“空間適配+性能強+易用高效“三大核心優勢，成為你的檢測增效利器。它操作系統簡便，使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

NS系列納米臺階高度測量儀應用場景適應性強，其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求，可測量沉積薄膜的臺階高度、抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度等。